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Applicability of quality metrics for ontologies on ontology design patterns ( Teil einer Monographie/eines Konferenzbandes )
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Titel
Applicability of quality metrics for ontologies on ontology design patterns
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Erscheinungsjahr
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Veröffentlicht in
Proceedings of the 5th International Conference on Knowledge Engineering and Ontology Development : Vilamoura, Algarve, Portugal, er 19 - 22 September 2013 ; [one of three integrated conferences that ... constitute the International Joint Conference on Knowledge Discovery, Knowledge Engineering and Knowledge Management (IC3K)] , ISBN 978-989-8565-81-5. - [S.l.] : SciTePress
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