Publikationen

IEF/IGS/Zuverlässigkeit und Sicherheit elektronischer Systeme

Jahr	Titel der Publikation	Publikationsart	Publikationsform
2017	Highly variable Sn-Cu diffusion soldering process for high performance power electronics: Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, ZDB-ID 2022028-5. - Amsterdam [u.a.] : Elsevier	Zeitschriftenartikel	Elektronische Ressource