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Publikation: Teil einer Monographie/eines Konferenzbandes
Automated insertion of twin gates to improve reliability concerning gate oxide breakdown
Grunddaten
Autoren
Einrichtung
Grunddaten
Titel
Automated insertion of twin gates to improve reliability concerning gate oxide breakdown
Veröffentlicht in
VLSI circuits and systems IV : 4 - 6 May 2009, Dresden, Germany. - Bellingham, Wash : SPIE
Erscheinungsjahr
2009
Seiten (von – bis)
736310-1 – 736310-8
Jahr
2009
Publikationsform
Druckschrift
Publikationsart
Teil einer Monographie/eines Konferenzbandes
Sprache
Englisch
Letzte Änderung
17.05.2019 15:24:06
Bearbeitungsstatus
durch UB Rostock abschließend validiert
Dauerhafte URL
http://purl.uni-rostock.de/fodb/pub/31663
Links zu Katalogen
Autoren
Saemrow, Hagen
Cornelius, Claas
Sill, Frank
Tockhorn, Andreas
Timmermann, Dirk
Einrichtung
IEF/Institut für Angewandte Mikroelektronik und Datentechnik (IMD)