Zur Seitennavigation oder mit Tastenkombination für den accesskey-Taste und Taste 1 
Zum Seiteninhalt oder mit Tastenkombination für den accesskey und Taste 2 
Startseite    Anmelden     
   Hilfe  Trennstrich  Sitemap  Trennstrich  Impressum  Trennstrich  Datenschutz  Trennstrich  node1  Trennstrich  Switch to english language

Publikation: Teil einer Monographie/eines Konferenzbandes

Automated insertion of twin gates to improve reliability concerning gate oxide breakdown


Grunddaten

Titel Automated insertion of twin gates to improve reliability concerning gate oxide breakdown
Veröffentlicht in VLSI circuits and systems IV : 4 - 6 May 2009, Dresden, Germany. - Bellingham, Wash : SPIE
Erscheinungsjahr 2009
Seiten (von – bis) 736310-1 – 736310-8
Jahr 2009
Publikationsform Druckschrift
Publikationsart Teil einer Monographie/eines Konferenzbandes
Sprache Englisch
Letzte Änderung 17.05.2019 15:24:06
Bearbeitungsstatus durch UB Rostock abschließend validiert
Dauerhafte URL http://purl.uni-rostock.de/fodb/pub/31663
Links zu Katalogen Diese Publikation in der Universitätsbibliographie Diese Publikation im GBV-Katalog

Autoren

Saemrow, Hagen
Cornelius, Claas
Sill, Frank
Tockhorn, Andreas
Timmermann, Dirk Link zur UB Rostock Link zum GBV-Katalog

Einrichtung

IEF/Institut für Angewandte Mikroelektronik und Datentechnik (IMD)