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Publikation: Teil einer Monographie/eines Konferenzbandes

Encountering gate oxide breakdown with shadow transistors to increase reliability


Grunddaten

Titel Encountering gate oxide breakdown with shadow transistors to increase reliability
Veröffentlicht in Proceedings : Gramado, Brazil, September 1 to 4, 2008 ; [part of] Chip in the Pampa // SBCCI 2008, 21st Symposium on Integrated Circuits and Systems Design. - New York, NY : ACM
Erscheinungsjahr 2008
Seiten (von – bis) 111 – 116
Jahr 2008
Publikationsform Druckschrift
Publikationsart Teil einer Monographie/eines Konferenzbandes
Sprache Englisch
Letzte Änderung 17.05.2019 14:18:03
Bearbeitungsstatus durch UB Rostock abschließend validiert
Dauerhafte URL http://purl.uni-rostock.de/fodb/pub/31092
Links zu Katalogen Diese Publikation in der Universitätsbibliographie Diese Publikation im GBV-Katalog

Autoren

Cornelius, Claas
Sill, Frank
Sämrow, Hagen
Salzmann, Jakob
Timmermann, Dirk Link zur UB Rostock Link zum GBV-Katalog
Silva, Diógenes

Einrichtung

IEF/Institut für Angewandte Mikroelektronik und Datentechnik (IMD)