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Publikation: Teil einer Monographie/eines Konferenzbandes
Encountering gate oxide breakdown with shadow transistors to increase reliability
Grunddaten
Autoren
Einrichtung
Grunddaten
Titel
Encountering gate oxide breakdown with shadow transistors to increase reliability
Veröffentlicht in
Proceedings : Gramado, Brazil, September 1 to 4, 2008 ; [part of] Chip in the Pampa // SBCCI 2008, 21st Symposium on Integrated Circuits and Systems Design. - New York, NY : ACM
Erscheinungsjahr
2008
Seiten (von – bis)
111 – 116
Jahr
2008
Publikationsform
Druckschrift
Publikationsart
Teil einer Monographie/eines Konferenzbandes
Sprache
Englisch
Letzte Änderung
17.05.2019 14:18:03
Bearbeitungsstatus
durch UB Rostock abschließend validiert
Dauerhafte URL
http://purl.uni-rostock.de/fodb/pub/31092
Links zu Katalogen
Autoren
Cornelius, Claas
Sill, Frank
Sämrow, Hagen
Salzmann, Jakob
Timmermann, Dirk
Silva, Diógenes
Einrichtung
IEF/Institut für Angewandte Mikroelektronik und Datentechnik (IMD)