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Publikation: Zeitschriftenartikel
EFTEM, EELS, and cathodoluminescence in Si-implanted SiO2 layers
Grunddaten
Autoren
Einrichtung
Grunddaten
Titel
EFTEM, EELS, and cathodoluminescence in Si-implanted SiO2 layers
Veröffentlicht in
Microscopy and microanalysis : the official journal of the Microscopy Society of America, Microbeam Analysis Society, Microscopical Society of Canada. - New York, NY : Cambridge University Press
Erscheinungsjahr
2009
Seiten (von – bis)
1104 – 1105
Band
15
Heft-Nr.
2
Jahr
2009
Publikationsform
Druckschrift
Publikationsart
Zeitschriftenartikel
Sprache
Englisch
Letzte Änderung
17.05.2019 15:26:59
Bearbeitungsstatus
durch UB Rostock abschließend validiert
Dauerhafte URL
http://purl.uni-rostock.de/fodb/pub/31631
Links zu Katalogen
Autoren
Fitting, Hans-Joachim
Fitting Kourkoutis, L.
Salh, Roushdey
Schmidt, B.
Einrichtung
MNF/Institut für Physik (IfPH)