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Publikation: Zeitschriftenartikel

Soft X-ray emission spectroscopy of low-dimensional SiO2/Si interfaces after Si+ ion implantation and ion beam mixing

Grunddaten

Titel Soft X-ray emission spectroscopy of low-dimensional SiO2/Si interfaces after Si+ ion implantation and ion beam mixing
Veröffentlicht in Physica status solidi / A. - Weinheim : Wiley-VCH
Erscheinungsjahr 2010
Seiten (von – bis) 743 – 747
Band 207
Heft-Nr. 3
Jahr 2010
Publikationsform Druckschrift
Publikationsart Zeitschriftenartikel
Sprache Englisch
Letzte Änderung 17.05.2019 16:29:01
Bearbeitungsstatus durch UB Rostock abschließend validiert
Dauerhafte URL http://purl.uni-rostock.de/fodb/pub/32473
Links zu Katalogen Diese Publikation in der Universitätsbibliographie Diese Publikation im GBV-Katalog

Autoren

Zatsepin, D. A.
Kaschieva, S.
Zier, M.
Schmidt, B.
Fitting, Hans-Joachim Link zur UB Rostock Link zum GBV-Katalog

Einrichtung

MNF/Institut für Physik (IfPH)