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Publikation: Zeitschriftenartikel

XPS analysis and valence band structure of a low-dimensional SiO 2/Si system after Si+ ion implantation

Grunddaten

Titel XPS analysis and valence band structure of a low-dimensional SiO 2/Si system after Si+ ion implantation
Veröffentlicht in Physica status solidi / A. - Weinheim : Wiley-VCH
Erscheinungsjahr 2011
Seiten (von – bis) 1658 – 1661
Band 208
Heft-Nr. 7
Jahr 2011
Publikationsform Druckschrift
Publikationsart Zeitschriftenartikel
Sprache Englisch
Letzte Änderung 17.05.2019 12:49:24
Bearbeitungsstatus durch UB Rostock abschließend validiert
Dauerhafte URL http://purl.uni-rostock.de/fodb/pub/39734
Links zu Katalogen Diese Publikation in der Universitätsbibliographie Diese Publikation im GBV-Katalog

Autoren

Zatsepin, D. A.
Mack, P.
Wright, A. E.
Schmidt, B.
Fitting, Hans-Joachim Link zur UB Rostock Link zum GBV-Katalog

Einrichtung

MNF/Institut für Physik (IfPH)