Zur Seitennavigation oder mit Tastenkombination für den
accesskey
-Taste und Taste 1
Zum Seiteninhalt oder mit Tastenkombination für den
accesskey
und Taste 2
S
tartseite
A
nmelden
Hilfe
Sitemap
Impressum
Datenschutz
node2
Studentisches Leben
Veranstaltungen
Einrichtungen
Räume und Gebäude
Personen
Forschung
Startseite
Publikation: Teil einer Monographie/eines Konferenzbandes
Reverse recovery behavior of the body diode of the SiC MOSFET
Grunddaten
Autoren
Einrichtung
Grunddaten
Titel
Reverse recovery behavior of the body diode of the SiC MOSFET
Veröffentlicht in
PCIM Europe : International Exhibition and Conference for Power Electronics, Intelligent Motion, Renewable Energy and Energy Management, Nuremberg, 8 - 10 May 2012 ; Proceedings. - Berlin [u.a.] : VDE-Verl.
Erscheinungsjahr
2012
Seiten (von – bis)
959 – 965
Jahr
2012
Publikationsform
Elektronische Ressource
Publikationsart
Teil einer Monographie/eines Konferenzbandes
Sprache
Englisch
Letzte Änderung
16.05.2019 19:30:29
Bearbeitungsstatus
durch UB Rostock abschließend validiert
Dauerhafte URL
http://purl.uni-rostock.de/fodb/pub/41193
Links zu Katalogen
Autoren
Appel, Tobias
Eckel, Hans-Günter
Einrichtung
IEF/Institut für Elektrische Energietechnik (IEE)